Thermo Scienti?c? Prisma? E SEM結(jié)合了全面的成像性能和獨(dú)特的環(huán)境模式（Thermo Scienti?c ESEM?），同時兼容廣泛的硬件和軟件選型，可滿足多用戶實驗室的綜合應(yīng)用需求。

學(xué)術(shù)和工業(yè)研究實驗室希望現(xiàn)代SEM能夠從*廣泛的樣品中獲得大量數(shù)據(jù)，并獲得出色的圖像質(zhì)量。由于大多數(shù)實驗室都是多用戶設(shè)施，確保所有經(jīng)驗***別的操作者都可以訪問所有數(shù)據(jù)，易用性至關(guān)重要。Prisma E SEM 的三種真空模式（高真空、低真空和 ESEM?）使得系統(tǒng)極具靈活性，可以容納任何 SEM 可用的*廣泛的樣品類型，包括放氣的、未鍍導(dǎo)電膜的或者是與真空狀態(tài)不相容的樣品。多種檢測器選項（定向背散射探測器、STEM、陰極熒光探測器等）提供了所有必要的樣品信息。探測器信號同步采集和顯示，可以在*短的時間內(nèi)提供答案。此外，ESEM可以提供真實環(huán)境條件對樣品進(jìn)行原位研究，例如在濕潤、高溫、潮濕或反應(yīng)性環(huán)境中的樣品觀察。Prisma E SEM 還包括***系列軟件集成的原位實驗臺，用于執(zhí)行和控制動態(tài)實驗。

Prisma E SEM 的分析樣品倉可以滿足日益增長的樣品元素信息及晶體結(jié)構(gòu)分析需求，它同時支持相對的雙能譜（EDS）探測器用于增強(qiáng)信號并去除陰影效應(yīng)；此外，支持共面的能譜（EDS）/電子背散射衍射（EBSD）和平行束波譜（WDS）探測器以確保各個探測器獲得*佳的采集位置。 得益于Prisma E SEM 強(qiáng)大的原位功能，對于絕緣樣品或者需要高溫條件的實驗都能獲得更加可靠的分析結(jié)果。