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原子力顯微鏡（AFM）
HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 15:17
品 牌：型 號：HFM-HLI
狀 態：正常點擊量：1710
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HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡可將原子力探針與白光干涉結合，實現原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結構測量。
1.產品型號：HFM-HLI
2.產地：中***武漢
3.產品介紹：HFM-HLI型可溯源原子力顯微鏡可將原子力探針與白光干涉結合，實現原子力探針掃描超精密表面微納形貌和結構測量。
4.技術指標：
型號 指標 | HFM-HLI |
垂直分辨率 (μm) | 1nm |
垂直范圍(mm) | 3μm |
水平分辨率(μm) | 2nm |
水平范圍(mm2) | 50μmw50μm |
5.應用實例
（1）107.3±2nm NT-MDT TGZ標準納米樣板測試結果
（2）517.5±2.5nm NT-MDT TGZ標準納米樣板測試結果
（3）光刻二維光柵表面測量結果
型號 指標 | HFM-HLI |
垂直分辨率 (μm) | 1nm |
垂直范圍(mm) | 3μm |
水平分辨率(μm) | 2nm |
水平范圍(mm2) | 50μmw50μm |
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