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儀器簡介：

對材料特性的全面認識是理解材料性能的基本前提。材料形態、晶體結構、化學成分、界面結構、表面以及缺陷都對材料的性能產生影響。透射電子顯微鏡已經被證實是在小到埃***尺寸研究各種普通材料和材料的非常有效的技術。它能夠產生很多的信號, 這些信號攜帶了不同類型的有用信息。Tecnai G² 20經過特殊設計可以快速有效地采集和處理這些信號。將高分辨圖像、明場/暗場圖像、STEM圖像、電子衍射和詳細的微觀分析有機的結合起來, 使Tecnai G² 20成為材料分析研究的重要儀器。
Tecnai G² 20可以根據不同用戶的配置要求供貨。標準型儀器提供了已被證實的多項技術: 既可得到高分辨圖像又保持高傾角(40°)的S-TWIN物鏡, 提供樣品精確控制和機械穩定性優異的CompuStage樣品臺。Tecnai G² 20可以安裝完全集成式設計的數字化的STEM(透射掃描附件)、EDX(能譜儀)和能量過濾或PEELS(能量損失譜)。這些技術可結合起來完成頻譜分布和頻譜圖像的分析工作。Tecnai G² 20為材料分析研究用戶提供了穩定性、操作方便性和高性能的優異組合。無論是在常規分析, 還是亞微米研究, Tecnai G² 20都能夠滿足日益增多的樣品數量。

為滿足結構生物學研究的需要，FEI公司還設計制造了配置TWIN物鏡和Cryo冷凍樣品臺的專門系統: Tecnai G2 20 TWIN
其主要技術特點：
- TWIN物鏡系統, 點分辨率 0.27nm
- 樣品傾角 +/- 70°
- Cryo液氮冷凍樣品臺及冷凍轉移設備
- 全自動化的數據采集和數據處理系統

技術參數：

1.LaB₆燈絲或鎢燈絲
2.點分辨率
　　U-TWIN 0.19nm
　　S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速電壓 20-200kV,連續可調
4.放大倍數 25x - 1100kx
5.樣品傾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.計算機控制的全數字化電鏡,基于Windows XP的用戶界面

主要特點：

1.***數字化系統
2.FEI技術S-TWIN/U-TWIN物鏡
3.CompuStage樣品臺提供高精度的樣品位置控制
4.全連鎖的潔凈的真空系統
5.可選完全集成化的各種附件, 如能譜儀、CCD相機等