美國必達泰克光學反射率儀
價 格:詢價
產 地:美國更新時間:2020-10-29 16:46
品 牌:必達泰克型 號:
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1. 512元線性PDA陣列光譜儀,16位AD,USB2.0接口
2. 特殊半透鏡專利技術,能高效收集試樣表面反射光,避免底部反射光影響,提高測試精度
3. ***大限度的提高光纖到狹縫的能量利用效率
4. 外置式探頭可選,更方便的用于大面積、高曲率、現場特殊環境監測
產品參數
檢測范圍:350-1050nm
光斑尺寸:50um
樣品曲率半徑:-1R~-∞ ,:+1R~+∞
重現性:±0.01%
光學分辨率:3.5nm
測量時間:3-65535ms
產品介紹
精確檢測光學鏡片等表面鍍膜物質反射率的理想選擇。內建光源,專用三維樣品臺,顯微聚焦功能和精確頂點定位機制。標準USB2.0/1.1接口,專用反射率檢測軟件
既可適合小面積曲面和平面樣品反射率檢測,又有外接探頭選項可以現場檢測大面積高曲率等特殊界面。